home *** CD-ROM | disk | FTP | other *** search
/ Garbo / Garbo.cdr / mac / hypercrd / hc2_x / scincprs.sit / References / card_4519.txt < prev    next >
Text File  |  1991-02-03  |  907b  |  30 lines
  1. -- card: 4519 from stack: in
  2. -- bmap block id: 0
  3. -- flags: 0000
  4. -- background id: 2674
  5. -- name: 
  6.  
  7.  
  8. -- part contents for background part 3
  9. ----- text -----
  10. 6
  11.  
  12. -- part contents for background part 4
  13. ----- text -----
  14. GOI, Germanium on CaF2, germanium on insulator
  15.  
  16. -- part contents for background part 6
  17. ----- text -----
  18. Formation conditions and structure of Ge films deposited on polished (111) CaF2 Substrates in an ultrahigh-vacuum system
  19.  
  20. -- part contents for background part 7
  21. ----- text -----
  22. B.W. Sloope / C.O. Tiller
  23.  
  24. -- part contents for background part 9
  25. ----- text -----
  26. J. Appl. Phys., 36, 3174, 1965
  27.  
  28. -- part contents for background part 17
  29. ----- text -----
  30. Determined transition temperature of amorphous Ge to crystalline at various deposition rates.  Determined activation energy of 1.43 eV, in agreement of nucleation theory of small clusters.  Give 1.53 eV for surface diffusion of Ge on CaF2.