home *** CD-ROM | disk | FTP | other *** search
/ Garbo / Garbo.cdr / mac / hypercrd / hc2_x / scincprs.sit / References / card_4677.txt < prev    next >
Text File  |  1991-02-03  |  814b  |  31 lines
  1. -- card: 4677 from stack: in
  2. -- bmap block id: 0
  3. -- flags: 0000
  4. -- background id: 2674
  5. -- name: 
  6.  
  7.  
  8. -- part contents for background part 3
  9. ----- text -----
  10. 7
  11.  
  12. -- part contents for background part 7
  13. ----- text -----
  14. B.W. Sloope / C.O. Tiller
  15.  
  16. -- part contents for background part 4
  17. ----- text -----
  18. GOI / Germanium on CaF2
  19.  
  20. -- part contents for background part 6
  21. ----- text -----
  22. Microstructure of epitaxial Ge films deposited on (111) CaF2 substrates.
  23.  
  24.  
  25. -- part contents for background part 9
  26. ----- text -----
  27. J. Appl. Phys., 37, 887, 1966
  28.  
  29. -- part contents for background part 17
  30. ----- text -----
  31. Investigation of microstructure of Ge film vs growth temperature and rate.  Principal source of defects due to coalescence.  Density of microtwins increased with increasing deposition rate and decreasing temperatures.