home *** CD-ROM | disk | FTP | other *** search
/ Garbo / Garbo.cdr / mac / hypercrd / hc2_x / scincprs.sit / References / card_5544.txt < prev    next >
Text File  |  1991-02-03  |  905b  |  30 lines
  1. -- card: 5544 from stack: in
  2. -- bmap block id: 0
  3. -- flags: 0000
  4. -- background id: 2674
  5. -- name: 
  6.  
  7.  
  8. -- part contents for background part 3
  9. ----- text -----
  10. 10
  11.  
  12. -- part contents for background part 4
  13. ----- text -----
  14. Si(001) surface/ anneal/ steps/ STM
  15.  
  16. -- part contents for background part 6
  17. ----- text -----
  18. Morphology and distribution of atomic steps on Si(001) studied with scanning tunneling microscopy
  19.  
  20. -- part contents for background part 7
  21. ----- text -----
  22. D. Dijkkamp, A.J. Hoeven, E.J. van Loenen, J.M. Lenssinck, J. Dieleman
  23.  
  24. -- part contents for background part 9
  25. ----- text -----
  26. Appl. Phys. Lett., 56, 39, 1990
  27.  
  28. -- part contents for background part 17
  29. ----- text -----
  30. Studied the native oxide removal in vacuum of Si(100) by STM as a function of temperature.  Cleaning at T below 1350K leads to step bunching.  Prefer 1450K.  Get 2 sets of steps depending on terrace, 1 straight and 1 jagged.